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GB/T 6147-1985 精密电阻合金热电动势率测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-05-31

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GB/T 6148-1985 精密电阻合金电阻温度系数测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-05-31

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GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6803-1986 铁素体钢的无塑性转变温度落锤试验方法 被代替 发布日期 :  1986-08-27 实施日期 :  1987-05-31

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GB/T 8754-1988 铝及铝合金阳极氧化 应用击穿电位测定法检验绝缘性 被代替 发布日期 :  1988-02-25 实施日期 :  1989-02-01

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GB/T 8758-1988 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 被代替 发布日期 :  1988-02-25 实施日期 :  1989-02-01

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GB/T 8761-1988 氧化钇、氧化铕粒度分布测定 光透沉降法 被代替 发布日期 :  1988-02-25 实施日期 :  1989-02-01

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GB/T 8763-1988 非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 被代替 发布日期 :  1988-02-25 实施日期 :  1989-02-01

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GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法 被代替 发布日期 :  2000-04-03 实施日期 :  2000-09-01

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