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GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 被代替 发布日期 :  1993-02-06 实施日期 :  1993-10-01

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GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 被代替 发布日期 :  1993-12-24 实施日期 :  1994-09-01

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GB/T 15077-1994 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法 被代替 发布日期 :  1994-05-11 实施日期 :  1994-12-01

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GB/T 15078-1994 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 被代替 发布日期 :  1994-05-11 实施日期 :  1994-12-01

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GB/T 5027-1999 金属薄板和薄带塑性应变比(r值)试验方法 被代替 发布日期 :  1999-11-01 实施日期 :  2000-08-01

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GB/T 5249-1985 可渗透性烧结金属材料——气泡试验 孔径的测定 被代替 发布日期 :  1985-07-22 实施日期 :  1986-06-30

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GB/T 6146-1985 精密电阻合金电阻率测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-05-31

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GB/T 6147-1985 精密电阻合金热电动势率测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-05-31

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GB/T 6148-1985 精密电阻合金电阻温度系数测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-05-31

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GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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