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GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片 被代替 发布日期 :  2007-09-11 实施日期 :  2008-02-01

本标准规定了水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片的要求、试验方法及检验规则等。 本标准适用于水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片,产品主要用于光电器件、微波器件和传感元件等的制作。

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GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底 被代替 发布日期 :  2014-07-24 实施日期 :  2015-04-01

本标准规定了LED外延芯片用砷化镓单晶衬底片(以下简称衬底)的要求、检验方法和规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。
本标准适用于LED外延芯片用的砷化镓单晶衬底。

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GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法 被代替 发布日期 :  2014-07-24 实施日期 :  2015-02-01

本标准规定了用千分尺测量碳化硅单晶片直径的方法。
本标准适用于碳化硅单晶片直径的测量。

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GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 被代替 发布日期 :  2014-07-24 实施日期 :  2015-02-01

本标准规定了碳化硅单晶片厚度及总厚度变化(TTV)的测试方法,包括接触式和非接触式两种方式。
本标准适用于直径不小于30 mm、厚度为0.13 mm~1 mm的碳化硅单晶片。

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