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GB/T 8122-2024 内径指示表 现行 发布日期 :  2024-04-25 实施日期 :  2024-11-01

本文件规定了内径指示表的型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法和标志与包装。本文件适用于分度值或分辨力为0.01 mm、0.001 mm,测量范围为6 mm~1 000 mm的指针和数显读数的内径指示表的设计、制造与检验。

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GB/T 9058-2024 奇数沟千分尺 现行 发布日期 :  2024-04-25 实施日期 :  2024-11-01

本文件规定了奇数沟千分尺的型式与基本参数、通则、检验方法、标志与包装。本文件适用于分度值为0.001 mm、0.002 mm、0.01 mm,测量上限不大于100 mm的奇数沟千分尺的设计、制造与检验。

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本文件提供了有关测量不确定度表述达成共识的方法指南和相应的程序,帮助顾客、供方解决在依据ISO 14253-1进行合格判定时因不确定度表述带来的争议问题,从而避免耗时且成本高昂的争论。

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GB/T 18779的本部分规定了评估检测值不确定度的概念及术语。在GPS指示式测量仪器的检验检测中,根据机构间达成的检测协议,通过仪器得到检测值。
注: 检测值不确定度与测量工件时由指示式测量仪器引起的测量不确定度是不同的。GB/T 18779的本部分中仅涉及前者。后者参见JJF 1059.1和GB/T 18779.2。
当指示式测量仪器的检验包含了多个检测值时,有些与仪器示值有关,另一些与其他计量特性有关,GB/T 18779的本部分仅涉及前者。
本部分规定了检测协议确定后如何评估检测值不确定度,不涉及规定检测协议的适用性。
本部分适用于GPS通用标准(见GB/T 20308)中涉及指示式测量仪器的所有规范。

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GB/T 1957-2006 光滑极限量规 技术条件 现行 发布日期 :  2006-02-05 实施日期 :  2006-08-01

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GB/T 43915-2024 纳米几何量标准样板测试方法 现行 发布日期 :  2024-04-25 实施日期 :  2024-11-01

本文件规定了纳米几何量标准样板测试方法的分类及原理、测试设备、测试环境、测试程序及测试数据处理。本文件适用于线间隔为50 nm~100 nm的纳米线间隔标准样板、线宽为20 nm~100 nm的纳米线宽标准样板、台阶高度为10 nm~100 nm的纳米台阶高度标准样板和薄膜厚度为2 nm~100 nm的纳米膜厚标准样板的测试。

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GB/T 4755-2004 扭簧比较仪 现行 发布日期 :  2004-02-10 实施日期 :  2004-08-01

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本文件规定了关节臂式坐标测量机性能的验收检测和复检检测。本文件适用于使用接触式测头和可选光学距离传感器配件(也称为线激光扫描仪或线激光测头)的关节臂式坐标测量机。验收检测是通过测量经校准的检测长度验证制造商规定的性能。复检检测是用户能够定期对关节臂式坐标测量机的性能进行复检。附录E中给出了扫描仪配件检测的详细信息。本文件不规定检测频次和周期,也不规定由哪方承担检测成本。本文件规定:--由制造商或用户规定关节臂式坐标测量机的性能要求;--用于证明规定要求的验收检测和复检检测的执行方式;--符合性判定规则;--验收检测和复检检测的应用。

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本文件规定了验证用于测量尺寸的坐标测量机性能的验收检测方法,以确定其是否达到由制造商所规定的性能。本文件还规定了用户定期验证坐标测量机性能的复检检测方法。
本文件只适用于按离散点探测模式进行操作的任一形式的配置影像探测系统的笛卡尔坐标系坐标测量机。
本文件未明确适用于:
——非笛卡尔坐标系的坐标测量机。但各方在达成一致的情况下,可将本文件应用于非笛卡尔坐标系的坐标测量机。
——使用其他类型光学测头的坐标测量机。但各方在达成一致的情况下,可将本文件应用于使用其他光学测头的坐标测量机。
——使用接触式探测系统的坐标测量机(见ISO 103602的接触式探测系统)。
本文件规定了验证由制造商或用户指定的坐标测量机的性能要求的验收检测和复检检测方法、检验一致性的规则及应用。

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本文件规定了配备接触/非接触测量模式多种探测系统坐标测量机的检测方法。
本文件适用于以下情况:
——由制造商提出对坐标测量机及其测头的性能指标进行验收检测;
——由使用方提出对坐标测量机及其测头的性能指标进行周期性的复检检测;
——由使用方提出对坐标测量机及其测头的性能指标在两次复检检测之间进行期间核查。
本文件覆盖了单探测轴以及在测量空间少量或大部分重叠的多探测轴坐标测量机,适用于配备不同类型测头组成的多种探测系统(例如,视觉测头与接触测头的组合,或两个不同用途接触测头的组合)。
本文件描述的检测方法与坐标测量机及探测系统引入的多种误差密切相关,是对检测坐标测量机长度测量误差和各探测系统探测误差的补充。在执行本文件之前,宜先检测坐标测量机的长度测量误差以及按标准(如ISO 10360-5、ISO 10360-7或ISO 10360-8)检测坐标测量机各探测系统的探测误差。

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GB/T 17163-2022 几何量测量器具术语 基本术语 现行 发布日期 :  2022-07-11 实施日期 :  2023-02-01

本文件界定了几何量测量器具的一般术语、测量器具术语、测量器具特性术语、测量标准(基准)术语及其定义。
本文件适用于几何量测量器具行业领域及其相关领域。

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GB/T 39516-2020 微纳米标准样板(几何量) 现行 发布日期 :  2020-11-19 实施日期 :  2021-06-01

本标准规定了微纳米标准样板(几何量)的术语和定义、型式与基本参数、要求、检查条件、检查方法、标志、运输及储存等。
本标准适用于线间隔为0.05 μm~10 μm的微纳米线间隔标准样板、台阶高度为0.01 μm~100 μm的微纳米台阶高度标准样板、薄膜厚度为2 nm~1 000 nm的纳米膜厚标准样板和线宽为25 nm~1 000 nm的纳米线宽标准样板。

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GB/T 43149-2023 高度卡尺的设计和计量特性 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件规定了高度卡尺(带有机械或数字显示)最重要的设计和计量特性。

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本文件规定了几何精度检测与验证的基本概念、测量基础、术语、符号、测量条件和测量程序等内容。
本文件适用于产品的尺寸、形状、位置、表面结构等几何特征的检测与验证。

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本文件规定了应用最大实体要求和最小实体要求的检测与验证过程一般规定及检测用夹具设计的一般要求。
本文件适用于采用功能量规和夹具对应用最大实体要求、最小实体要求时的被测要素和/或基准要素的检测与验证。

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