本标准规定了用渗透探伤检测铜钨电触头的裂纹、孔洞和局部疏松以及铜钨整体电触头的界面裂纹和夹杂物、铜端裂纹和气孔等常见缺陷的方法。本标准适用于对铜钨电触头和铜钨整体电触头开放性缺陷的检测。本标准不适用于对铜钨电触头和铜钨整体电触头封闭性缺陷的检测。

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本标准规定了铜铬电触头的符号及标注方法、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于真空灭弧室用铜铬电触头产品的检验和验收。

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本文件描述了电触头材料金相检测的方法。
本文件适用于在金相显微镜下电触头材料组织及缺陷的观察和分析。

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本标准给出了主要电触头材料的正常组织、常见典型缺陷以及原材料粉末颗粒形貌金相图片。
本标准适用于在电触头材料金相检验时对照参考。

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本标准规定了在开磁路下用一个探测线圈测定铁磁材料样品磁偶极矩的基本方法。磁偶极矩的测量可采用抽拉方式或旋转方式。本标准适用于所有铁磁材料，尤其适用于永磁（硬磁)材料的磁偶极矩的测量以及含有铁磁粘结剂的硬质合金材料的比饱和磁极化强度的测量。此外，通过一定的方式将试样磁化到饱和，试样的饱和磁偶极矩也可被确定。试样磁极化强度的平均值可通过测量其磁偶极矩和试样的体积而计算得出。磁矩线圈系统的校准和弱磁材料磁偶极矩的测量同样可以采用本方法。剩磁、矫顽力、最大磁能积及其他参数可在闭磁路下按GB/T 13012和GB/T 3217所描述的方法测量。软磁和半硬磁材料的内禀矫顽力HcJ可在开磁路下按GB/T 13888所描述的方法测量。

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本标准规定了银基电触头基本形状、尺寸、符号及标注。本标准适用于低压电器用银基电触头。

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本标准规定了铜钨及银钨电触头的要求、抽样、试验方法、标志、标签和包装。本标准适用于粉末压制烧结及熔渗工艺生产的铜钨及银钨电触头，这些产品主要应用于高、低压电器。

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本文件描述了永磁材料的磁化行为，并对不同磁体的饱和磁化磁场强度给出了建议。
本文件适用于稀土铁硼、钐钴、永磁铁氧体、铝镍钴等永磁材料的饱和磁化。

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本标准规定了低压电器用电触头材料在直流100 V以下、交流400 V以下、电流30 A以下的电磨损、电寿命、接触电阻、温升等电性能的试验方法。本标准适用于在相同试验条件下不同电触头材料间的性能对比。

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本标准规定了粉末冶金法和固相烧结法银镍石墨片状电触头的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于粉末冶金法和固相烧结法生产的银镍石墨片状电触头（以下简称电触头）的检验和验收。该产品主要应用于断路器中。

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本文件描述了在开磁路中测量磁性材料矫顽力的方法。
本文件适用于矫顽力0.2 A/m 至160 kA/m 的磁性材料。
注：本文件的磁性材料有软磁材料（如，铁、低碳钢、硅钢、其他钢、镍铁合金、铁钴合金、粉末冶金技术制成的
软磁材料、非晶软磁材料、纳米晶软磁材料）和硬磁材料[ 如，磁致伸缩合金、永（硬）磁合金、永（硬）磁
陶瓷、其他永（硬）磁材料、黏结（硬）磁材料][2]。
测量的矫顽力低于40 A/m、高电导率材料以及非椭圆形的试样，采用附录A 的特殊措施。

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本标准规定了块状（片材)及线形（线材)银氧化锡、银氧化锡氧化铟电触头材料的要求、抽样、检验方法、标志、标签与包装等内容。 本标准适用于以合金内氧化法和粉末冶金法制造的片材及线材银氧化锡、银氧化锡氧化铟电触头材料产品。

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本文件规定了纯铁、铁硅、铁镍和铁钴、铁铬的一般要求、磁性能及尺寸公差，描述了相应检验方法。材料可以棒材、坯、片材、带材或线材的形式供货，纯铁、铁硅、铁镍和铁钴材料与GB/T 21219—
2023 磁性材料类别中的A，C1，C2，E1 至E4 及F1 至F3 规定的合金材料相对应。
本文件适用于继电器的磁性材料纯铁和钢被GB/T 43344—2023 涵盖，GB/T 43344—2023 在磁性能上对纯铁（A 类）和铁硅（C21、C22 类）的规定条款不如本文件规定的细，但给出了更宽的尺寸公差。
本文件适用于工频下无取向和取向电工钢（C21 及C22 类）按比总损耗分类，被GB/T 17951.2—2014、GB/T 2521.1—2016 和GB/T 2521.2—2016 涵盖。
本文件适用于按比总损耗分类的中频下的无取向和取向电工钢，它们被IEC 60404⁃8⁃8 涵盖。

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本标准规定了永磁(硬磁)材料磁性试验方法。
本标准适用于铝镍钴永磁、铁氧体永磁、铁铬钴永磁、稀土永磁及其他永磁材料磁性能的测量。

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本标准规定了采用螺线管法和磁矩法测量弱磁材料(包括奥氏体不锈钢)相对磁导率的方法。上述两种方法的相对磁导率测量范围见表1，所施加的磁场强度在5 kA/m~100 kA/m的范围内。

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