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GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 被代替 发布日期 :  1993-09-03 实施日期 :  1993-12-01

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GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 被代替 发布日期 :  1993-09-03 实施日期 :  1993-12-01

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GB/T 14126-1993 显示管防眩玻屏技术要求及试验方法 废止 发布日期 :  1993-02-03 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 14128-1993 掺铷钇铝石榴石激光棒尺寸系列 被代替 发布日期 :  1993-02-03 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语 现行 发布日期 :  1990-12-28 实施日期 :  1991-10-01

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GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法 现行 发布日期 :  1990-12-28 实施日期 :  1991-10-01

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GB/T 7423.1-1987 半导体器件散热器 通用技术条件 现行 发布日期 :  1987-03-16 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 7423.2-1987 半导体器件散热器 型材散热器 现行 发布日期 :  1987-03-16 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 7423.3-1987 半导体器件散热器 叉指形散热器 现行 发布日期 :  1987-03-16 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 7265.1-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法 废止转行标 发布日期 :  1987-02-13 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 7265.2-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法 “开式腔”法 现行 发布日期 :  1987-02-13 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 6626.1-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法 被代替 发布日期 :  1986-07-26 实施日期 :  1987-07-01

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GB/T 6626.2-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂含汞量的测试方法 被代替 发布日期 :  1986-07-26 实施日期 :  1987-07-01

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GB/T 6626.3-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法 被代替 发布日期 :  1986-07-26 实施日期 :  1987-07-01

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