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GB/T 43034.2-2024 集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分:同步瞬态注入法 现行 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2024-10-26

本文件给出了评价集成电路(IC)对快速传导同步瞬态骚扰抗扰度试验方法的通用信息和定义。这些信息包括试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告的内容要求。
本文件的目的是描述通过建立相同的试验环境获得IC抗扰度的定量度量的通用条件,同时也描述了预期会影响试验结果的关键参数。与本文件的偏离需在试验报告中明确地注明。
本文件给出的同步瞬态抗扰度测量方法是使用具有不同幅值、持续时间和极性的,上升时间快速的短脉冲以传导的方式耦合给IC。在本方法中,施加的脉冲需与IC的功能运行同步,目的是确保可控的和可复现的条件。

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本文件规定了集成电路(IC)对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。与受试器件(DUT)运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。不管电瞬态骚扰是否在IC规定的工作电压范围之内,本方法都能够得到传导电瞬态骚扰和其引起的IC性能降级之间的相互关系并对其进行分类。

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GB/T 43452-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项要求 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-04-01

本文件规定了模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项及推荐格式或语言的要求。本文件适用于模拟/混合信号IP核的测试、交换与集成。

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GB/T 43453-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核文档结构指南 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-04-01

本文件提供了模拟/混合信号知识产权(IP)核相关文档结构,包括IP核简介、功能规范、设计手册、功能及物理验证文档和应用手册。本文件适用于模拟/混合信号IP核的提供者组织撰写模拟/混合信号IP核相关文档、使用者和第三方评价模拟/混合信号IP核文档的质量控制。注: 此处第三方是指在IP核交易过程中进行评测和提供服务的独立机构。

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GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种 现行 发布日期 :  1994-08-08 实施日期 :  1995-04-01

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GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了电压调整器(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。

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GB/T 44777-2024 知识产权(IP)核保护指南 现行 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2024-10-26

本文件给出了几种知识产权(IP)核保护方案和策略,主要包括法律保护手段、技术保护手段和探测跟踪手段。本文件适用于IP核提供者和IP核使用者参照选择适合的IP核保护和管理方案。
本文件不涉及IP核设计流程中要使用到的电子设计自动化(EDA)工具的保护。

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GB/T 44795-2024 系统级封装(SiP)一体化基板通用要求 现行 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2024-10-26

本文件规定了系统级封装(SiP)一体化基板通用要求,包括一体化基板总体要求、特性定义、设计、验证、制造、检验、交付、产品转运、贮存等方面要求。
本文件适用于系统级封装(SiP)中成为成品外壳整体一部分的底部基板。

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GB/T 44807.1-2024 集成电路电磁兼容建模 第1部分:通用建模框架 现行 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2024-10-26

本文件规定了集成电路(IC)电磁兼容(EMC)宏建模的框架和方法,规定了IEC 62433其他部分中常用术语的定义、不同的建模方法以及标准化的每个模型类别的要求和数据交换格式。

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本文件规定了集成电路(IC)的宏模型以仿真印制电路板上的传导电磁发射。该模型通常称为集成电路发射模型-传导发射(ICEM-CE)。
ICEM-CE宏模型能用于对IC晶片、功能块和知识产权(IP)块进行建模。
ICEM-CE宏模型还能用于对数字IC和模拟IC进行建模。

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GB/T 44924-2024 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 现行 发布日期 :  2024-12-31 实施日期 :  2025-04-01

本文件规定了半导体集成电路射频发射器和接收器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
本文件适用于具有接收功能、发射功能、收发一体功能的一次变频射频发射器/接收器,其他类型的发射器和接收器可参考使用。

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本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。

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GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 现行 发布日期 :  2000-01-03 实施日期 :  2000-07-01

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GB/T 39842-2021 集成电路(IC)卡封装框架 现行 发布日期 :  2021-03-09 实施日期 :  2021-07-01

本标准规定了集成电路(IC)卡封装框架(以下简称IC卡封装框架)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、贮存和运输。
本标准适用于IC卡封装框架,包括接触式IC卡封装框架和非接触式IC卡封装框架。

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