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GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法,包括术语、定义和符号,确立了测量方法概述、基准试验方法、装置、试样、程序、计算和结果的统一试验程序和技术要求。
本部分适用于A类多模光纤、B类单模光纤和C类单模光纤。

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GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了测量光纤预涂覆层几何参数的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

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