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GB/T 15972的本部分规定了沿光纤纵轴向定量地机械剥去保护涂覆层所需的力的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于标称包层直径为125 μm且标称外涂覆层(包含紧包缓冲层)直径为的200 μm~900 μm的A1类、A2类、A3类、B类、C类和D类光纤的涂覆层可剥性测量。其他标称包层直径的光纤可参考本部分进行测量。
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GB/T 15972的本部分规定了测量光纤预涂覆层几何参数的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。
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GB/T 15972的本部分规定了沿光纤纵轴向定量地机械剥去保护涂覆层所需的力的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于A1类、A2类、A3类和B类具有标称外直径为250 μm~900 μm范围内的聚合物作外被覆层的光纤的测量。 本部分不适用于实际直径230 μm~930 μm范围之外的聚合物作外被覆层的光纤。
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