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GB/T 15972的本部分规定了光纤数值孔径的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对A1类、A2类多模光纤数值孔径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。对A3类﹑ A4类多模光纤数值孔径的测量也可参照使用。

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GB/T 15972的本部分规定了单模光纤光缆截止波长的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对单模成品光纤光缆截止波长的测量和商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤模场直径的试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对B类单模光纤模场直径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了测量光纤宏弯敏感性的统一要求。   本部分适用于测量B类单模光纤在1550nm或1625nm波长及A1类多模光纤在850nm和(或)1300nm波长的宏弯损耗,以检验光纤在规定波长上的宏弯敏感性。本部分适用于光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤微分模时延的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。   本部分适用于A1类渐变折射率多模光纤微分模时延的测量和成品光纤光缆的商业性检验。   本部分确定的试验方法一般应用于生产工厂和研究院所,但不适合在野外操作。

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GB/T 15972.5-1998 光纤总规范 第5部分:环境性能试验方法 被代替 发布日期 :  1998-12-21 实施日期 :  1999-07-01

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GB/T 15972的本部分规定了评估光纤和光缆在给定的伽玛辐照环境中性能的测量方法和试验程序。
本部分适用于测定成缆或未成缆A1类、A2类多模光纤和B类单模光纤因暴露在伽玛辐照下产生的辐照感应衰减值。
本部分不适用于光缆中非传光组分材料的测量,如果光缆材料暴露在辐照中会发生恶化,则需要进一步研究和寻找其他的测量方法。
注: 该试验对其他类型光纤的适用性在研究中。有关背景描述见附录A,详细背景信息见IEC/TR 62283。

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GB/T 16712-1996 同步数字体系(SDH)复用设备技术要求 被代替 发布日期 :  1996-12-26 实施日期 :  1997-07-01

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GB/T 16814-1997 同步数字体系(SDH)光缆线路系统测试方法 被代替 发布日期 :  1997-05-28 实施日期 :  1998-02-01

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GB/T 16849-1997 光纤放大器总规范 被代替 发布日期 :  1997-05-28 实施日期 :  1998-02-01

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GB/T 16849-2008 光纤放大器总规范 被代替 发布日期 :  2008-10-07 实施日期 :  2009-04-01

本标准规定了光纤放大器(OFA)的术语和定义、分类和要求;确定了试验方法和可靠性试验。 本标准适用于稀土元素掺杂的有源光纤OFA器件、带光纤放大器子系统,以及喇曼光纤放大器(RFA)器件。

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GB/T 11820-1989 市内光缆通信系统进网要求 废止 发布日期 :  1989-10-25 实施日期 :  1990-07-01

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