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GB/T 15972的本部分规定了沿光纤纵轴向定量地机械剥去保护涂覆层所需的力的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于标称包层直径为125 μm且标称外涂覆层(包含紧包缓冲层)直径为的200 μm~900 μm的A1类、A2类、A3类、B类、C类和D类光纤的涂覆层可剥性测量。其他标称包层直径的光纤可参考本部分进行测量。
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本文件规定了光纤的衰减特性试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本文件适用于对A类多模光纤、B类单模光纤和C类单模光纤的衰减特性测量。
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GB/T 15972的本部分规定了多模光纤带宽的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的技术要求。本部分适用于A1、A3、A4类多模光纤带宽的测量。
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GB/T 15972的本部分规定了光纤波长色散的试验方法,确立了对试验装置、试样和试样制备、程序、计算和结果的统一要求。 本部分适用于GB/T 12357和GB/T 9771系列标准中规定的以下类别光纤和光缆: ——A1类多模光纤; ——A4f、A4g和A4h子类多模光纤; ——B1.1、B1.2、B1.3、B2、B4、B5及B6类单模光纤。
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GB/T 15972的本部分规定了单模光纤光缆截止波长的试验方法规定了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对GB/T 9771中规定的B类以及GB/T 31242-2014中规定的C类单模成品光纤光缆截止波长的测量和检验。
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GB/T 15972的本部分规定了光纤模场直径的试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于B类单模光纤模场直径的测量。
GB/T 15972的本部分规定了透光率变化的监测方法和试验程序。 本部分适用于所有B类单模光纤和A类多模光纤成品光纤光缆的商业性检验。
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GB/T 15972的本部分规定了单模光纤偏振模色散(PMD)的基准试验方法(RTM)和其他试验方法规定了对试验装置、注入条件、测量程序、计算方法、结果的统一要求。 本部分适用于对GB/T 9771中规定的B类未成缆和已成缆单模光纤PMD特性的检验。
GB/T 15972的本部分描述了光纤微分模时延的试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于A1类渐变折射率多模光纤微分模时延的测量。 本部分确定的试验方法一般应用于室内环境,不适合在野外操作。 注: 吉比特以太网系统是以激光器作光源。当此系统使用A1类多模光纤作为传输介质时,以微分模时延的测量结果评价在这种应用条件下多模光纤的带宽性能。
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GB/T 15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中温度变化性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和(或)运输过程中可能发生的温度变化环境条件下的适应性能。
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GB/T 15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中浸水性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和(或)运输过程中可能发生的浸泡在蒸馏水或软化水环境条件下的适应性能。
GB/T 15972的本部分规定了评估光纤和光缆在给定的伽玛辐照环境中性能的测量方法和试验程序。本部分适用于测定成缆或未成缆的A1类、A2类多模光纤和B类单模光纤因暴露在伽玛辐照下产生的辐照感应衰减值。本部分不适用于光缆中非传光构件材料的测量,如果光缆材料暴露在辐照中会发生恶化,则需要进一步研究和寻找其他的测量方法。
GB/T 15972的本部分规定了光纤在给定的含氢环境中进行氢老化试验的方法和试验程序。本部分主要适用于评估GB/T 15972.10—2008中规定的B1.3类波长段扩展的非色散位移单模光纤的氢老化性能,也可用于评估B4类单模光纤的氢老化性能。
本文件界定了光放大器(OA)的术语和定义,规定了光放大器的分类和要求,描述了相应的试验方法。 本文件适用于稀土元素掺杂的有源光纤OA器件、带光放大器子系统,以及拉曼光纤放大器(RFA)器件的设计、开发、生产和测试。
本文件描述了单波道光放大器功率和增益参数的光谱分析仪、电谱分析仪和光功率计测量方法。本文件适用于单波道光放大器和光放大器子系统,包括基于稀土元素掺杂的光纤放大器、拉曼光纤放大器、半导体光放大器和平面光波导放大器的功率和增益参数的测量。
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