本文件描述了水分活度仪的性能测定方法。本文件适用于带温度控制功能的各种原理水分活度仪性能指标的测定。不带温度控制功能的水分活度仪性能指标的测定参照本文件执行。

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本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

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本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。
本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。
本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。

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本文件确立了化学蒸气发生原子荧光光谱分析方法进行元素定量分析的通用规则。本文件适用于采用化学蒸气发生原子荧光光谱仪以液体进样方式对样品中易形成氢化物、气态组分或冷蒸气等元素的含量进行定量分析。本文件不适用于固体直接进样分析。

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本文件给出了动态光散射法粒度分析仪的原理，规定了其性能、电源电压适应性、环境适应性、安全性、机械结构、试验条件等技术要求，描述了其准确性、重复性的试验方法。本文件适用于测量纳米级及亚微米级颗粒的平均粒径、粒径分布等参数的粒度分析仪的试验、检测、运行和维护。

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本文件规定了透射光照明的明场显微镜在像面或中间像面测量颜色特性的测量程序。
本文件还规定了如何向用户提供相关信息。

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本文件提供了在开放技术字典（OTD)中制定术语和概念定义的推荐性指南。

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本文件包含GB/T 44275所有部分中使用的术语。以下内容属于本文件范围：--与

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本文件规定了在可见光谱范围（400 nm～760 nm）内使用的显微镜盖玻片的尺寸偏差、厚度和光学特性的要求。
本文件适用于显微镜盖玻片的设计、制造和应用。

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本文件规定了显微镜盖玻片的材料质量、成品标准和包装方式的要求和试验方法。
本文件适用于在可见光谱范围（400 nm～760 nm）中使用的显微镜盖玻片的设计、制造和应用。

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本文件规定了温度-湿度-振动-低气压综合环境试验系统的组成、技术要求、检验规则、标志和包装，描述了温度-湿度-振动-低气压综合环境试验系统的检验方法。
本文件适用于温度-湿度-振动-低气压综合环境试验系统(以下简称“四综合试验系统”)的制造。

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本文件界定了加压流体萃取仪性能测定的术语和定义，描述了测定方法，包括试剂和材料、仪器和设备及性能指标的测定步骤。
本文件适用于加压流体萃取仪温度性能、压力性能、萃取溶剂输送通道间偏差、萃取结果一致性及交叉污染的测定。

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本文件规定了电动振动台双台并激振动试验系统的技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存，描述了电动振动台双台并激振动试验系统的检验方法。本文件适用于电动振动台双台并激振动试验系统(以下简称“双台系统”)的制造。由多个相同方向组成的多台并激的电动振动试验系统参照执行。

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本文件规定了三轴同振电动振动试验系统的基本参数、技术要求、检验规则、标志、包装和随机文件，描述了三轴同振电动振动试验系统的检验方法。本文件适用于三轴同振电动振动试验系统(以下简称“三轴振动系统”)的制造。

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本文件界定了望远镜通用领域、双筒望远镜、单筒望远镜、观测镜和瞄准望远镜的术语和定义。
本文件适用于望远镜标准制定，编制技术文件、教材和书刊，以及文献翻译、技术交流和贸易等。

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