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本标准规定了对波片相位延迟测量装置进行校准的术语和定义、测量原理、校准方法和校准。 本标准适用于对各种原理的波片相位延迟测量装置的精度进行校准。
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本标准规定了采用光纤模拟手段检测脉冲激光测距仪测距参数的室内测试方法。 本标准适用于脉冲激光测距仪测距参数的测定和验收。
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本标准规定了办公复印机用镜头成像系统光学传递函数(OTF)的测量方法。 本标准适用于可扫描整个物像面的办公复印机镜头或采用扫描式或脉冲式照明系统的办公复印机镜头。 本标准不适用于阵列型的办公复印机镜头。
本标准规定了两种用于表示光学材料、光学系统和光学仪器以及眼镜镜片的参考波长,并规定了主折射率、主色散以及两种参考波长和主色散的阿贝数。
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本标准规定了应用在光学系统内的多光谱减反射膜膜层的分类、要求、试验方法及检验规则。 本标准适用于在硒化锌、硫化锌等红外晶体上镀制多光谱减反射膜。
本标准规定了光学系统径向畸变的测量方法。 本标准适用于光谱范围在100 nm~15 000 nm内,且具有旋转对称特性的光学系统。对于符合旋转对称特性的电子光学图像系统,亦可参照使用。 本标准不适用于变形光学系统。
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本标准规定了光学零部件面形偏差的术语和定义、公差及检验方法。本标准适用于使用光学样板的等厚干涉方法及干涉仪方法检验光学零部件的面形偏差。
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本标准规定了光学薄膜元件的环境试验方法、试验条件、试验程序及评价标准。 本标准适用于除眼科光学(眼镜)之外的所有镀有光学功能薄膜的元件和基片的环境试验。 本标准不涉及产品光学性能的检验。
本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。
本文件规定了激光光学用薄膜的光学性能尤其是激光功率承载能力、机械性能、化学耐受性和环境适应性等方面的基本要求。本文件适用于激光领域应用的光学薄膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。
GB/T 4315的本部分规定了成像系统光学传递函数(OTF)测量装置结构和用途的通用导则。本部分叙述了可能影响OTF测量的各个重要因素,同时规定了测量装置性能要求和环境控制的一般规则。本部分规定了为保证精确测量所必须注意的要点,以及测得数据的修正因子。本部分所描述的光学传递函数测量装置,限制在分析被测光学成像系统像平面上的辐射分布。这些装置不包括以干涉仪为基础的仪器。
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本标准规定了透镜中心偏差的术语和定义、基准轴的选定与标注、中心偏差的标注及检验。 本标准适用于由球面与球面或球面与平面组成的且具有旋转对称边缘面的单透镜和胶合透镜。对于具有其他边缘形状的透镜(例如:矩形透镜)也基本适用。
GB/T 7660的本部分规定了与反射棱镜光学平行度相关的术语和定义,以及使用自准直仪作为检验工具时的光学平行度的检验方法。 本部分适用于指导反射棱镜的制造和检验。
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理,术语和定义,仪器和设备,样品制备,测量程序,结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构(形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系),元素组分,截面及界面原子排布等。
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