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GB/T 13742-2009 光学传递函数测量准确度 现行 发布日期 :  2009-09-30 实施日期 :  2009-12-01

本标准规定了对光学传递函数(OTF)测量装置的误差来源和误差估算进行评价的通用导则,并提出了光学传递函数测量装置测量准确度的评定导则和评定方法。
本标准适用于各种光学传递函数测量装置。

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GB/T 26828-2011 多光谱减反射膜规范 现行 发布日期 :  2011-07-29 实施日期 :  2011-12-01

本标准规定了应用在光学系统内的多光谱减反射膜膜层的分类、要求、试验方法及检验规则。
本标准适用于在硒化锌、硫化锌等红外晶体上镀制多光谱减反射膜。

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GB/T 27667-2011 光学系统像质评价 畸变的测定 现行 发布日期 :  2011-12-30 实施日期 :  2012-05-01

本标准规定了光学系统径向畸变的测量方法。
本标准适用于光谱范围在100 nm~15 000 nm内,且具有旋转对称特性的光学系统。对于符合旋转对称特性的电子光学图像系统,亦可参照使用。
本标准不适用于变形光学系统。

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GB/T 2831-2009 光学零件的面形偏差 现行 发布日期 :  2009-11-15 实施日期 :  2010-02-01

本标准规定了光学零部件面形偏差的术语和定义、公差及检验方法。本标准适用于使用光学样板的等厚干涉方法及干涉仪方法检验光学零部件的面形偏差。

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GB/T 7242-2010 透镜中心偏差 现行 发布日期 :  2010-12-01 实施日期 :  2011-05-01

本标准规定了透镜中心偏差的术语和定义、基准轴的选定与标注、中心偏差的标注及检验。
本标准适用于由球面与球面或球面与平面组成的且具有旋转对称边缘面的单透镜和胶合透镜。对于具有其他边缘形状的透镜(例如:矩形透镜)也基本适用。

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GB/T 7660.3-2013 反射棱镜 第3部分:光学平行度及其检验方法 现行 发布日期 :  2013-12-17 实施日期 :  2014-07-15

GB/T 7660的本部分规定了与反射棱镜光学平行度相关的术语和定义,以及使用自准直仪作为检验工具时的光学平行度的检验方法。
本部分适用于指导反射棱镜的制造和检验。

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本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理,术语和定义,仪器和设备,样品制备,测量程序,结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构(形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系),元素组分,截面及界面原子排布等。

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GB/T 26331-2010 光学薄膜元件环境适应性试验方法 现行 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-06-01

本标准规定了光学薄膜元件的环境试验方法、试验条件、试验程序及评价标准。
本标准适用于除眼科光学(眼镜)之外的所有镀有光学功能薄膜的元件和基片的环境试验。
本标准不涉及产品光学性能的检验。

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GB/T 26332.6-2022 光学和光子学 光学薄膜 第6部分:反射膜基本要求 现行 发布日期 :  2022-10-12 实施日期 :  2023-05-01

本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

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本文件规定了激光光学用薄膜的光学性能尤其是激光功率承载能力、机械性能、化学耐受性和环境适应性等方面的基本要求。本文件适用于激光领域应用的光学薄膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求,也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

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GB/T 37969-2019 近红外光谱定性分析通则 现行 发布日期 :  2019-08-30 实施日期 :  2020-03-01

本标准规定了近红外光谱定性分析的基本原理和方法、使用软件、仪器设备、光谱测量、样品、定性分析试验步骤、试验数据处理、试验报告等内容的通用要求。

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GB/T 12085.1-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-05-01

本部分规定了环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验标记。                    
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

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GB/T 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-05-01

本部分规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本部分不适用于常规生产检查。
本试验目的是研究长霉对试样的光学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度,以及估价霉菌代谢产物(比如酶或酸性物质)导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。

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GB/T 12085.12-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 污染 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-08-01

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