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GB/T 26332.1-2010 光学和光学仪器 光学薄膜 第1部分:定义 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-06-01

GB/T 26332的本部分叙述了除眼科光学(眼镜)之外的所有镀膜的光学元器件及基片的镀膜表面,并制定了相关参数的标准表述,定义了表面特性参数及其检验、检测方法,而不说明其加工方法。
本部分定义了与光学薄膜相关的术语。这些术语分为4类:基本定义、按功能定义薄膜、常见的薄膜缺陷定义和其他定义。

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GB/T 27668.1-2011 显微术术语 第1部分:光学显微术 被代替 发布日期 :  2011-12-30 实施日期 :  2012-05-01

本标准规定了用于光学显微术领域的术语和定义。

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GB/T 12085.1-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-05-01

本部分规定了环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验标记。                    
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

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GB/T 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-05-01

本部分规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本部分不适用于常规生产检查。
本试验目的是研究长霉对试样的光学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度,以及估价霉菌代谢产物(比如酶或酸性物质)导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。

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GB/T 12085.12-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 污染 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-08-01

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本部分规定了冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。


本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学性能受到冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温影响变化的程度。

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GB/T 12085.14-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 露、霜、冰 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-08-01

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GB/T 12085.14-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分:露、霜、冰 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-05-01

本部分规定了露、霜、冰试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验的目的是研究试样的光学、热学、机械和电器等特性受露、霜、冰的影响的程度。

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本部分规定了宽带随机振动(数字控制)综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验
标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受到宽带随机振动(数字控制)与高温、低温影响时的变化程度。

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本部分规定了弹跳或恒加速度与高温或低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验
标记。

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本部分规定了污染、太阳辐射综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

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本部分规定了温度周期与正弦振动、随机振动综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

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本部分规定了低温、高温、湿热试验的试验条件、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、化学及电学等特性受到温度和湿度影响的变化程度。

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