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GB/T 12085.5-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-07-31

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本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度,包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响

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GB/T 12085.6-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 砂尘 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-07-31

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GB/T 12085.7-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 淋雨 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-07-31

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GB/T 12085.8-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 高压、低压、浸没 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-07-31

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本部分规定了高压、低压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的为研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到环境气体高压、低压或水浸没影响的变化程度。

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GB/T 1224-1999 几何光学术语、符号 被代替 发布日期 :  1999-09-13 实施日期 :  2000-05-01

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GB/T 26332.1-2010 光学和光学仪器 光学薄膜 第1部分:定义 被代替 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-06-01

GB/T 26332的本部分叙述了除眼科光学(眼镜)之外的所有镀膜的光学元器件及基片的镀膜表面,并制定了相关参数的标准表述,定义了表面特性参数及其检验、检测方法,而不说明其加工方法。
本部分定义了与光学薄膜相关的术语。这些术语分为4类:基本定义、按功能定义薄膜、常见的薄膜缺陷定义和其他定义。

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GB/T 27668.1-2011 显微术术语 第1部分:光学显微术 被代替 发布日期 :  2011-12-30 实施日期 :  2012-05-01

本标准规定了用于光学显微术领域的术语和定义。

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GB/T 7242-1987 透镜中心误差 被代替 发布日期 :  1987-02-06 实施日期 :  1987-12-01

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GB/T 7661-1987 光学零件气泡度 被代替 发布日期 :  1987-04-16 实施日期 :  1988-01-01

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GB/T 13323-1991 光学制图 被代替 发布日期 :  1991-12-13 实施日期 :  1992-10-01

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GB/T 12085.1-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 术语、试验范围 被代替 发布日期 :  1989-12-29 实施日期 :  1990-07-31

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本部分规定了振动(正弦)与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受振动(正弦)与高温、低温的影响时的变化程度。

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