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本部分规定了污染试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质1)(以下称试剂)同光学仪器的接触。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
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本部分规定了湿热、低内压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本部分规定了盐雾试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是尽早对仪器表面和保护涂(镀)层抵抗盐雾的能力进行评估。
本部分规定了砂尘试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验的目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学等特性受到砂尘影响的变化程度,特别是研究运动部件(如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮)的故障 或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对粗粒砂尘的耐磨性。
本部分规定了滴水、淋雨试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学特性受到滴水、淋雨影响的变化程度。
本部分规定了太阳辐射试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于露天操作、储存或在相对较低气压中存放的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到太阳辐射影响的变化程度。
GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。GB/T 26332不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。GB/T 26332的本部分界定了光学薄膜的相关术语,包括基本定义、按功能定义薄膜、常见的薄膜缺陷定义、其他术语和定义。
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