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行业标准（0）
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国际标准 （0）
- 全部 01 综合、术语学、标准化、文献( 0 ) 03 社会学、服务、公司(企业)的组织和管理、行政、运输( 0 ) 07 自然和应用科学( 0 ) 11 医药卫生技术( 0 ) 13 环保、保健和安全( 0 ) 17 计量学和测量、物理现象( 0 ) 19 试验［该类仅包括试验通用标准;分析化学,见71.040］( 0 ) 21 机械系统和通用件( 0 ) 23 流体系统和通用件［流体流量的测量,见17.120］( 0 ) 25 机械制造［该类包括通用标准］( 0 ) 27 能源和热传导工程( 0 ) 29 电气工程( 0 ) 31 电子学( 0 ) 33 电信、音频和视频工程( 0 ) 35 信息技术( 0 ) 37 成像技术( 0 ) 39 精密机械、珠宝( 0 ) 43 道路车辆工程( 0 ) 45 铁路工程( 0 ) 47 造船和海上构筑物( 0 ) 49 航空器和航天器工程( 0 ) 53 材料储运设备( 0 ) 55 货物的包装和调运( 0 ) 59 纺织和皮革技术( 0 ) 61 服装工业( 0 ) 65 农业( 0 ) 67 食品技术( 0 ) 71 化工技术( 0 ) 73 采矿和矿产品( 0 ) 75 石油天然气及相关技术( 0 ) 77 冶金( 0 ) 79 木材技术( 0 ) 81 玻璃和陶瓷工业( 0 ) 83 橡胶和塑料工业［其他高分子材料入此］( 0 ) 85 造纸技术( 0 ) 87 涂料和颜料工业( 0 ) 91 建筑材料和建筑物( 0 ) 93 土木工程( 0 ) 95 军事物资、军事工程、武器( 0 ) 97 家用和商用设备、文娱、体育( 0 ) 99 (无标题)［该类保留出,作为内部其他用途］( 0 )
国外标准 （0）
- 全部 ANSI 美国国家标准学会( 0 ) API 美国石油学会( 0 ) AS 澳大利亚标准( 0 ) ASME 美国机械工程协会( 0 ) ASTM 美国材料与试验协会标准( 0 ) BS 英国标准( 0 ) BSI 英国BSI标准( 0 ) CFR 美国联邦法规( 0 ) CSA 加拿大标准( 0 ) DE 德国标准( 0 ) DIN 德国DIN标准( 0 ) EN 欧洲标准( 0 ) FR 法国标准( 0 ) IEEE 美国电气电子工程师协会( 0 ) JP 日本标准( 0 ) JSA 日本JIS标准( 0 ) KS 韩国标准( 0 ) MIL 美国军用标准( 0 ) SAE 美国机动车工程师学会( 0 ) SU 俄罗斯GOST标准( 0 ) UL 美国保险商试验室( 0 ) UNI 意大利标准( 0 )
地方标准（0）
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1范围本标准规定了半导体磁阻元件技术规范（以下简称“SMR”）术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、标志包装运输和贮存。本标准适用于半导体磁阻元件的验收、检测及性能实验。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件。不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.22环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化IEC61760-2SurfaceMountingTechnology-Part2:TransportationandStorageConditionsofSurfaceMountingDevices(SMD)-ApplicationGuideJ-STD-020JOINTIPC/JEDECStandardMoisture/ReflowSensitivityClassificationforNon-hermeticSurfaceMountDevices(SMDs)JESD22-A101Steady-StateTemperature-HumidityBiasLifeTestJESD22-A102DAcceleratedMoistureResistance–UnbiasedAutoclaveJESD22-A103HighTemperatureStorageLifeJESD22-A104TemperatureCyclingJESD22-A108Temperature,Bias,AndOperatingLifeJESD22-A110HighlyAcceleratedTemperatureandHumidityStressTest(HAST)JESD22-A113PreconditioningOfNonhermeticSurfaceMountDevicesPriorToReliabilityTestingJESD22-A118AcceleratedMoistureResistance-UnbiasedHastJESD22-B102ESolderabilityJESD47StressTestDrivenQualificationOfIntegratedCircuitsJS-001HumanBodyModel(HBM)JS-002ChargedDeviceModel(CDM)3术语和定义GB/T4475中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.1半导体磁阻SMR当半导体材料处于外加磁场中时，载流子（电子或空穴）受洛伦兹力作用发生运动偏转，导致电流路径变化或散射概率增加，从而引起电阻值的改变，这一现象称为半导体磁阻效应。磁阻效应的强弱与半导体材料本身性质有关（物理磁阻效应），也与材料的几何形状相关（几何磁阻效应），使用半导体材料制备的用于检测磁场的元件被称为半导体磁阻元件（SemiconductorMagnetoResistance，SMR）。
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