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JJF 1702-2018 α、β平面源校准规范 现行 发布日期 :  2018-02-27 实施日期 :  2018-08-27

本规范适用于表面发射率为(102~106)min-1的α平面源和表面发射率为(103~106)min-1的β平面源的校准,β粒子的最大能量大于等于150 keV。

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JJF 1100-2016 平面等厚干涉仪校准规范 现行 发布日期 :  2016-11-30 实施日期 :  2017-05-30

本规范适用于平面等厚干涉仪的校准。

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JJG 2057-2006 平面角计量器具 现行 发布日期 :  2006-03-08 实施日期 :  2006-09-08

本检定系统表适用于平面角计量器具的量值传递,它规定了平面角单位由国家基准向计量标准以及向工作计量器具量值传递的程序、量值传递的方法和量值传递时的最佳测量能力。平面角计量器具包括:面角度计量器具、小角度计量器具和线角度计量器具。

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JJG 661-2004 平面等倾干涉仪 现行 发布日期 :  2004-09-21 实施日期 :  2005-03-21

本规程适用于平面等倾干涉仪的首次检定、后续检定和使用中的检验。

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JJF 1100-2003 平面等厚干涉仪校准规范 被代替 发布日期 :  2003-05-12 实施日期 :  2003-11-12

本规范适用于平面等厚干涉仪的校准,不适用于只能估读干涉条纹弯曲量的同类干涉装置的校准。

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JJG 788-1992 α、β标准平面 被代替 发布日期 :  1992-06-29 实施日期 :  1992-12-01

本规程适用于新制造的和使用中的用于校准α、β表面污染仪的α、β标准平面源(β最大能量大于0.15 MeV)的检定。

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JJG 2019-1989 平面度计量器具 现行 发布日期 :  1989-06-22 实施日期 :  1990-04-01

本检定系统表适用于光学行业、机械行业生产和使用中的平面平晶、长平晶以及用于检测平面度、直线度的仪器和量具。

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