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GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。
注: 本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时,必须使用合适的术语(衰减或插入损耗)。

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GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法。

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GB/T 5095的本部分适用于互连组件,如IEC TC 48范围内的电连接器和电缆组件。
本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)的试验方法。
注: 这些测试方法是为专业试验人员编写的,这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。由于测量值受装置和设备的强烈影响,该方法未能叙述所有可能的复合作用。主要设备制造厂提供的应用说明书,对如何最恰当的使用其设备作了更深入的专业说明。至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解如何安排和进行所要求测量的说明和简图。

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GB/T 5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器,尤其适用于IEC 60603-7系列和IEC 61076-3-104中所叙述的连接器,以及用于数据传输的其他类型连接器。

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