GB/T 5095.2502-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)
现行
发布日期 :
2021-03-09
实施日期 :
2021-10-01
GB/T 5095.2507-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)
现行
发布日期 :
2021-03-09
实施日期 :
2021-10-01
GB/T 5095.2509-2020
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰
现行
发布日期 :
2020-04-28
实施日期 :
2020-11-01
GB/T 5095.5-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
现行
发布日期 :
1997-12-26
实施日期 :
1998-10-01