GB/T 14849的本部分规定了工业硅中碳含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中碳含量的测定，测定范围：0.010%～0.50%。

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GB/T 4324的本部分规定了用红外吸收法测定钨粉、钨条、氧化钨中碳量。
本部分适用于钨粉、钨条、氧化钨中碳量的测定。测定范围为0.000 5%~0.50%。

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本标准规定了近红外光致发光光谱方法表征半导体性单壁碳纳米管的原理的基础上，规范了使用仪器、制样方法、测量步骤、实验数据处理及结果分析、不确定度影响因素分析和测试报告等内容。
本标准适用于利用近红外光致发光光谱方法表征半导体性单壁碳纳米管手性指数和相对质量浓度。

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本标准规定了用傅里叶变换显微红外光谱法识别聚合物层或夹杂物的方法。本标准适用于薄膜表面或者内部的异常微粒或斑点，以及通过复合挤压而成的、用于阻隔膜的不同聚合物层中夹杂物的识别。

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本标准规定了测试纳米材料细胞毒性实验前后鉴别干燥金纳米颗粒薄膜中表面结合分子的傅里叶变换红外光谱法(FTIR)。

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本部分规定了红外线吸收法和燃烧中和滴定法测定铬铁、硅铬合金的硫含量。 本部分适用于铬铁、硅铬合金的硫含量测定，红外线吸收法的测定范围（质量分数）： 0.005 0%～0.070%，燃烧中和滴定法的测定范围（质量分数）：0.005 0%～0.120%。

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本文件描述了二氧化铀粉末和芯块中碳测定的方法，包括原理、试剂或材料、仪器设备、样品、试验步骤、试验数据处理、精密度及试验报告。本文件适用于二氧化铀粉末和芯块中碳的测定，取样量为0.5 g时，碳含量的测量范围为（10～1 000）μg/g。

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本文件规定了在0.78 μm～25 μm红外光谱范围内使用的光学材料的命名、特性以及表征该类材料的性能参数，描述了这些性能参数相应的测试方法。
本文件适用于无源光学元件所用红外材料的表征与测试。也能用于其他光谱波段（如微波、可见光或紫外波段）的表征与测试。

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本部分涉及单相器具额定电压不超过250 V，其他器具额定电压不超过480 V的家用和类似用途的装有向皮肤辐射紫外线和红外线的发射器的电器的安全。 不作为一般家用，但对公众仍可能引起危险的器具，例如打算在皮肤晒黑店、美容店及类似场所使用的器具也属于本部分的范围。 就实际情况而言，本部分所涉及的各种器具存在的普通危险，是在住宅内和住宅周围环境中所有的人可能会遇到的。

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本文件描述了用脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法测定颗粒硅中氢含量的方法。
本文件适用于流化床法颗粒硅中氢含量的测定，其他硅材料参照使用。
注： 本文件测定氢含量的范围取决于所用氢分析仪的量程，最大测定范围为氢量0.000 08 mg～2.5 mg。以质量分数（%）表示的氢分析仪的测定范围因称取样品量的不同而不同。例如，1 g样品最大测定范围的质量分数为0.000 008%～0.25%；0.15 g样品最大测定范围的质量分数为0.000 06%～1.66%。

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本部分规定了铝及铝合金中碳含量的测定方法。
本部分适用于铝及铝合金中碳含量的测定，测定范围：0.010%～1.00%。

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This document specifies a method for the determination of carbon content in aluminum and aluminum alloys.
This document is applicable to the determination of carbon content between 0.010% to 1.00% (mass fraction) in aluminum and aluminum alloys.

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本文件描述了稀土铁合金中氧含量的测定方法。本文件适用于稀土铁合金中氧含量的测定。测定范围(质量分数)：0.005 0%~0.60%。

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本标准规定了采用红外光谱快速检测聚氯乙烯制品中邻苯二甲酸酯类增塑剂的原理、试剂和材料、仪器设备、定性筛选、定量分析和结果计算。本标准适用于邻苯二甲酸酯总含量不少于1%的聚氯乙烯材料的定性和定量检测。

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GB/T 5959的本部分规定了通常由红外发射器产生的红外辐射在装置内明显超过热对流和热传导，作为传热方式，向被处理材料传递能量的工业电热设备和装置的安全要求。范围的进一步限制是在空气或真空中最大光谱辐射波长在780 nm以上，且通过诸如热辐射或高压电弧发射宽波段连续光谱的红外发射器。
GB/T 5959.1—2019将红外定义为频率范围在大约400 THz~300 GHz之间的光学辐射。在真空中的对应波长范围在780 nm~10 μm。工业红外加热通常使用额定温度在500 ℃~3 000 ℃的红外源，从这些红外源发出的辐射主要位于780 nm~10 μm的波长范围内。
由于大量的热发射器的发射波长可能低于780 nm或高于3 000 nm，所以本部分同样考虑了可见光和波长超过3 000 nm的辐射的安全方面的问题。

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