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国际标准 （0）
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IEC 63068-4:2022 EN 5577f219
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
现行
发布日期 :
2022-07-27
实施日期 :
IEC TR 60721-4-7:2001+AMD1:2003 CSV EN-FR 24f597be
Classification of environmental conditions - Part 4-7: Guidance for the correlation and transformation of environmental condition classes of IEC 60721-3 to the environmental tests of IEC 60068 - Portable and non-stationary use
现行
发布日期 :
2003-08-18
实施日期 :
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