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GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 被代替 发布日期 :  2001-07-12 实施日期 :  2001-12-01

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本部分给出了一个标准的试验方法过程,用以确定元件、设备和其他产品(下文称样品)经受规定严酷度正弦振动的能力。 本试验的目的是确定样品的机械薄弱环节和(或)特性降低情况。用这些资料,结合有关规范用以判定样品是否可以接收。在某些情况下,本试验方法可用于论证样品的机械结构完好性和(或)研究它们的动态特性。也可根据经受本试验不同严酷等级的能力来划分元器件等级。

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GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka:盐雾试验方法 被代替 发布日期 :  1993-11-19 实施日期 :  1994-07-01

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GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验 M:低气压试验方法 被代替 发布日期 :  1991-05-27 实施日期 :  1992-02-01

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GB/T 2423的本部分提供对设备或部件在太阳辐射条件下试验的指导。
试验目的是为了检查设备或部件受太阳辐射影响的程度。
综合试验的方法可检测电、机械或其他物理性能的变化。

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GB/T 2423的本部分是关于散热和非散热试验样品低温(温度渐变或突变)和低气压综合试验,见8.2.2和8.2.8。
本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中遇到的低温低气压综合环境的适应性。
本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。
本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。

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GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法 被代替 发布日期 :  1993-11-19 实施日期 :  1994-07-01

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