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【计量规程规范】 通用数字集成电路测试系统

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适用范围：

本规程适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。

基本信息

  • 标准号：

    JJG 1015-2006

  • 标准名称：

    通用数字集成电路测试系统

  • 英文名称：

    General Digital Integrated Circuit Testing System

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2006-12-08

  • 实施日期：

    2007-03-08

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    19 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    陈大为、吴京燕

  • 起草单位：

    信息产业部电子工业标准化研究所

  • 归口单位：

    全国无线电计量技术委员会

  • 提出部门：

  • 发布部门：

    国家质量监督检验检疫总局
  • 其它标准
  • 推荐标准

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