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IEEE 256-1963 IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

【国外标准】 IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 256-1963
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标准简介

适用范围：

This Standard recommends and describes methods of measurement of the important electrical characteristics of semiconductor diodes. For the purpose of this Standard, a semiconductor diode is defined1 as: A semiconductor device having two terminals and exhibiting a nonlinear voltage--current characteristic; in more restricted usage, a semiconductor device which has the asymmetrical voltage--current characteristic exemplified by a single p-n junction. Methods of test are described for static,… read more small-signal and pulse parameters. Many of the terms considered herein have been set down in AI E E and IRE Standards, particularly in 60 IRE 28.SH and AI EE No. 4252. read less

基本信息

标准号：
IEEE 256-1963
标准名称：
IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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