【团体标准】大规模数字IC设计原型验证系统通用规范

本网站发布时间： 2025-04-10

T/CIE 256-2024
现行
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标准简介

适用范围：

本文件给出了大规模数字IC设计原型验证系统的验证流程、配套工具、选型标准、互联标准、时钟标准和软件标准的说明，并规定了原型验证系统设计要遵循的规范标准和技术要求。本文件适用于大规模数字芯片IC设计验证领域中，以FPGA芯片为主的原型验证系统的设计实现。其可应用于一个完整原型验证系统中的硬件设计模块、软件设计模块、互联拓扑模块及验证调试模块的开发和规范。

基本信息

标准号：
T/CIE 256-2024
标准名称：
大规模数字IC设计原型验证系统通用规范
英文名称：
标准状态：
现行
发布日期：
2024-08-09
实施日期：
2024-09-01
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
31.200
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
刘丹、马婧、暴宇、李俊华、李银斯、郝智翔、于鑫、苏琪、杨红艳、李翔宇、李幸和、邵健、魏江杰、袁爱东、张琦滨、汪争、毕小建、韩文燕、张艳飞、谭光明、元国军、武楠、张龙、张立星、薛梅、盛敬刚、黄雯华、李熠
起草单位：
江苏汤谷智能科技有限公司、清华大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡先进技术研究院、无锡中微亿芯有限公司、中科院计算所、北京理工大学、中科院软件所、浙江大学、深圳市国微电子有限公司、紫光同芯微电子有限公司、湖南进芯电子科技有限公司、北京神州泰岳软件股份有限公司
归口单位：
中国电子学会
提出部门：
中国电子学会
发布部门：
中国电子学会

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