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【团体标准】 透射电子显微镜校准方法

本网站 发布时间: 2023-11-06
  • T/CSTM 00162-2020
  • 现行
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标准简介标准简介

适用范围:

本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准。

基本信息

  • 标准号:

    T/CSTM 00162-2020

  • 标准名称:

    透射电子显微镜校准方法

  • 英文名称:

    Calibration methods for transmission electron microscope
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2020-03-23
  • 实施日期:

    2020-06-23
  • 出版语种:

标准分类号

  • 标准ICS号:

    17.020
  • 中标分类号:

    A50

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

  • 字数:

  • 开本:

其他信息

  • 起草人:

    李旭、任玲玲、张毅、梁霄鹏、雷前、刘伟丽、范文浩、刘哲、刘渊、关波、齐笑迎、苏春华、张瑞芳、孙威
  • 起草单位:

    中国计量科学研究院、河南科技大学、中南大学、北京市理化分析测试中心、国家石墨烯产品质量监督检验中心(江苏)、中国科学院化学研究所、国家纳米科学中心、深圳市电源技术学会、深圳石墨烯创新中心有限公司
  • 归口单位:

    中关村材料试验技术联盟
  • 提出部门:

    中关村材料试验技术联盟
  • 发布部门:

    中关村材料试验技术联盟