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IEEE 218-1956 IEEE Standard Methods of Testing Transistors

【国外标准】 IEEE Standard Methods of Testing Transistors

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 218-1956
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标准简介

适用范围：

This standard deals with the methods of measurement of important characteristics of transistors. In general, these characteristics are referred to as parameters of the devices. Because of the youthfulness of the transistor art, methods of testing transistors will continue to change considerably before the art can be considered to have "stabilized" sufficiently for complete standardization. This standard corresponds to the current state of transistor testing methods, and its publication by the… read more IRE is considered preferable to waiting for a future stabilization of the many rapid changes now characteristic of this field read less

基本信息

标准号：
IEEE 218-1956
标准名称：
IEEE Standard Methods of Testing Transistors
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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