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【国外标准】 USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

本网站 发布时间： 2025-04-28
  • IEEE 300-1969
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标准简介标准简介

适用范围：

The definition of a semiconductor radiation detector herein will be: A semiconductor device that utilizes the production and motion of excess free charge carriers for the detection and measurement of incident radiation. Test procedures for the associated amplifiers and preamplifiers are described in "USA Standard and IEEE Test Procedure for Amplifiers and Preamplifiers for Semiconductor Radiation Detectors" (USAS N42.2 and IEEE 301).

基本信息

  • 标准号：

    IEEE 300-1969

  • 标准名称：

    USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

  • 英文名称：

  • 标准状态：

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标准分类号

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出版信息

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其他信息

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