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IEEE 1500-2022 IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

【国外标准】 IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE 1500-2022
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标准简介

适用范围：

IEEE Std 1500 is a standard design-for-testability method for integrated circuits (ICs) containing embedded nonmergeable cores. This method is independent of the underlying functionality of the IC or its individual embedded cores. The method supports the necessary requirements for the test of such ICs, while allowing for ease of interoperability of cores that might have originated from different sources. This method is usable for all classes of digital cores, including hierarchical cores.

基本信息

标准号：
IEEE 1500-2022
标准名称：
IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

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替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
154 页
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

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