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IEEE C62.59-2019 IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes

【国外标准】 IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE C62.59-2019
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标准简介

适用范围：

This standard sets terms, test methods, test circuits, measurement procedures and preferred result values for diodes with one or more silicon PN-junctions used for surge voltage clamping in low-voltage systems. The technology types covered are: - Forward biased diodes - Zener breakdown diodes - Avalanche breakdown diodes - Punch-through diodes - Foldback diodes

基本信息

标准号：
IEEE C62.59-2019
标准名称：
IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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采用标准：

出版信息

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