您的位置：
中国标准在线服务网 >>
全部标准分类 >>
国外标准 >>
IEEE >>
IEEE 1450.1-2005 IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Semiconductor Design Environments

【国外标准】 IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Semiconductor Design Environments

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 1450.1-2005
定价： 360元 / 折扣价： 306 元
在线阅读

开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！查看详情>>

标准简介

适用范围：

Define structures in STIL to support usage as semiconductor simulation stimulus; including: 1) mapping signal names to equivalent design references, 2) interface between Scan and BIST, and the logic simulation, 3) data types to represent unresolved states in a pattern, 4) parallel or asynchronous pattern execution on different design blocks, and 5) expression-based conditional execution of pattern constructs. Define structures in STIL to support the definition of test patterns for sub-blocks of… read more a design (i.e., embedded cores) such that these tests can be incorporated into a complete higher-level device test. Define structures in STIL to relate fail information from device testing environments back to original stimulus and design data elements. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1450.1-2005
标准名称：
IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Semiconductor Design Environments
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

其它标准

推荐标准