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IEEE 300-1988 IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

【国外标准】 IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE 300-1988
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标准简介

适用范围：

This standard applies to semiconductor radiation detectors that are used for the detection and high-resolution spectroscopy of charged particles. The measurement techniques described were selected to be readily available to all manufacturers and users of charged-particle detectors. Some superior techniques are not included because the methods are too complex or require equipment (such as particle accelerators) which may not be readily available. Test procedures for the associated amplifiers and… read more preamplifiers are described in ANSI/IEEE Std 301-1988 read less

基本信息

标准号：
IEEE 300-1988
标准名称：
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

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被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
35 页
字数：
开本：

其他信息

起草人：
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提出部门：
发布部门：

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