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IEEE 1450.1-2025 IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments

【国外标准】 IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE 1450.1-2025
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标准简介

适用范围：

Structures are defined in STIL to support usage as semiconductor simulation stimulus, including the following: a) Mapping signal names to equivalent design references b) Interface between scan and built-in self test (BIST) and the logic simulation c) Data types to represent unresolved states in a pattern d) Parallel or asynchronous pattern execution on different design blocks e) Expression-based conditional execution of pattern constructs Structures are defined in STIL to support the definition… read more of test patterns for sub-blocks of a design (i.e., embedded cores) such that these tests can be incorporated into a complete higher level device test. Structures are defined in STIL to relate fail information from device testing environments back to original stimulus and design data elements. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1450.1-2025
标准名称：
IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
133 页
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

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