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【国外标准】 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제14부：단자의 강도(리드의 무결성)

本网站 发布时间： 2024-10-15
  • KS C IEC 60749-14(2021 Confirm)
  • 现行
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标准简介标准简介

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    KS C IEC 60749-14(2021 Confirm)

  • 标准名称：

    반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제14부：단자의 강도(리드의 무결성)

  • 英文名称：

    Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 14：Robustness of terminations(lead integrity)

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2006-11-30

  • 实施日期：

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.01

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

  • 起草单位：

  • 归口单位：

  • 提出部门：

  • 发布部门：

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