开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

标准详细信息 去购物车结算

【团体标准】 碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法

本网站 发布时间： 2023-11-06
  • T/CASAS 032-2023
  • 现行
  • 定价： 无文本 / 折扣价： 0 元
  • 在线阅读
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    T/CASAS 032-2023

  • 标准名称：

    碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法

  • 英文名称：

    Test method for the content of metal elements on the surface of silicon carbide wafer—Inductively coupled plasma mass spectrometry

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-06-19

  • 实施日期：

    2023-06-19

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31-030

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

    崔潆心、陈秀芳、谢雪健、杨祥龙、徐现刚、来玲玲、于国建、冯淦、丁雄杰、秋琪、林云昊、赵海明、钮应喜、金向军、徐瑞鹏

  • 起草单位：

  • 归口单位：

  • 提出部门：

  • 发布部门：

  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究