【团体标准】 Micro-LED芯片光电性能测试方法

本网站发布时间： 2025-10-30

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标准简介

T/CSA100—2025《Micro-LED芯片光电性能测试方法》描述了单色Micro-LED芯片的光电性能测试方法。文件适用于发光台面(mesa)的长边边长（或直径）在1μm～50μm范围内的单色Micro-LED芯片的光电性能测试评估。

起草人：
周雄图、林怡彬、黄凯、陈志忠、黄少华、徐杰、张永爱、吴朝兴、孙昕、朱广敏、黄涛、刘英斌、朱昕、吕天刚、牛宏强、刘强、熊敬康、刘泽强、刘志强、徐圆圆
起草单位：
福州大学、闽都创新实验室、中关村半导体照明工程研发及产业联盟、厦门大学、北京大学、厦门三安光电有限公司、中关村半导体照明联合创新重点实验室（宽禁带半导体超越照明材料与技术全国重点实验室）、京东方华灿光电（浙江）有限公司、晶能光电股份有限公司、南昌中微半导体设备有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、宁波升谱光电股份有限公司、北京大学东莞光电研究院、常州市武进区半导体照明应用技术研究院、中国科学院半导体研究所、广州市鸿利显示电子有限公司
归口单位：
中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟）
提出部门：
中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟）
发布部门：
中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟）

T/CSA 100-2025