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IEEE 1149.7-2022 IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

【国外标准】 IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE 1149.7-2022
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标准简介

适用范围：

The standard will define a link between IEEE 1149.1 interfaces in Debug and Test Systems (DTS) and IEEE 1149.1 (JTAG) interfaces in Target Systems (TS). The link defined by this standard introduces an additional layer between these legacy interfaces. This layer may be viewed as an adapter that provides new functionality and features while preserving all elements of the original IEEE 1149.1 (JTAG) interfaces. The standard will define the link behavior (including timing characteristics of signals)… read more , protocols, and functionality of the adapters deployed within the DTS and TS. The standard will not modify or create inconsistencies with IEEE 1149.1 (JTAG). The standard will define a superset of the IEEE 1149.1 specification and achieve compliance with IEEE Std 1149.1. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1149.7-2022
标准名称：
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
英文名称：
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
1048 页
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

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