【团体标准】微纳薄膜相变温度测试光功率分析法

本网站发布时间： 2023-11-06

T/CSTM 00537-2021
现行
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标准简介

适用范围：

本文件规定了光功率分析法测试薄膜材料相变温度的术语和定义、原理、仪器和试剂、样品处理、仪器校准、测试过程、数据处理、不确定度评定和测试报告等。本文件适用于厚度为5nm~100μm的薄膜材料相变温度的测试，薄膜材料应相变前后光反射率不同且在测试温区内受热不分解、不挥发。厚度大于100μm的材料可参照执行。

基本信息

标准号：
T/CSTM 00537-2021
标准名称：
微纳薄膜相变温度测试光功率分析法
英文名称：
Phase transition temperature measurement of micro-nano thin film -Optical power analysis
标准状态：
现行
发布日期：
2021-05-11
实施日期：
2021-08-11
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
31.200
中标分类号：
L55

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
缪向水、任玲玲、童浩、李硕、王愿兵、蔡自彪、金森林、乐松、王建峰、张景基、李小平、龙剑平、陶小马、余志高
起草单位：
华中科技大学、中国计量科学研究院、武汉嘉仪通科技有限公司、深圳中国计量科学研究院技术创新研究院、暨南大学、中国计量大学、成都理工大学、广西大学
归口单位：
中关村材料试验技术联盟
提出部门：
中关村材料试验技术联盟
发布部门：
中关村材料试验技术联盟

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