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- T/CSA 099-2025 Micro-LED芯片外量子效率测试方法
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适用范围:
T/CSA099—2025《Micro-LED芯片外量子效率测试方法》描述了低功率(nW~μW)微型发光二极管(以下简称Micro-LED)的外量子效率(EQE)测量方法,包括:Micro-LED芯片的点测和LED封装的测试。本文件适用于Micro-LED的EQE的测量。
标准号:
T/CSA 099-2025
标准名称:
Micro-LED芯片外量子效率测试方法
英文名称:
标准状态:
现行-
发布日期:
2025-09-28 -
实施日期:
2025-09-28 出版语种:
起草人:
陈志忠、黄凯、黄少华、周雄图、徐杰、孙昕、朱广敏、黄涛、刘英斌、朱昕、吕天刚、牛宏强、林怡彬、刘强、熊敬康、刘泽强、刘志强、徐圆圆起草单位:
北京大学、厦门大学、中关村半导体照明工程研发及产业联盟、厦门三安光电有限公司、福州大学、中关村半导体照明联合创新重点实验室(宽禁带半导体超越照明材料与技术全国重点实验室)、京东方华灿光电(广东)有限公司、晶能光电股份有限公司、南昌中微半导体设备有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、宁波升谱光电股份有限公司、闽都创新实验室、北京大学东莞光电研究院、常州市武进区半导体照明应用技术研究院、中国科学院半导体研究所、广州市鸿利显示电子有限公司归口单位:
中关村半导体照明工程研发及产业联盟(国家半导体照明工程研发及产业联盟)提出部门:
中关村半导体照明工程研发及产业联盟(国家半导体照明工程研发及产业联盟)发布部门:
中关村半导体照明工程研发及产业联盟(国家半导体照明工程研发及产业联盟)
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