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【团体标准】 电子元器件故障树分析方法与程序

本网站 发布时间： 2023-06-05
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适用范围：

本文件确立了基于失效物理的电子元器件故障树建树方法及故障树分析程序。描述了以故障树为载体的电子元器件故障信息库构建方法。
本文件适用于电子元器件在设计、研制、生产和使用阶段进行故障树建造和失效路径分析，以及电子元器件在设计和应用阶段的潜在失效问题识别，其结果可用于电子元器件的质量归零问题分析、可靠性设计分析和应用风险分析。
本文件方法适用于半导体分立器件、半导体集成电路、混合集成电路、机电元件、印制电路板等电子元器件。

基本信息

  • 标准号：

    T/CIE 116-2021

  • 标准名称：

    电子元器件故障树分析方法与程序

  • 英文名称：

    Fault tree analysis method and procedure of electronic components

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2021-11-22

  • 实施日期：

    2022-02-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080

  • 中标分类号：

    L04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    28 页

  • 字数：

    50 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    何小琦、陈媛、恩云飞、来萍、宋芳芳、王蕴辉、支越、路国光、任艳

  • 起草单位：

    工业和信息化部电子第五研究所

  • 归口单位：

    中国电子学会可靠性分会

  • 提出部门：

    中国电子学会可靠性分会

  • 发布部门：

    中国电子学会
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