【团体标准】半导体器件间歇工作寿命试验设备

本网站发布时间： 2024-02-02

T/ZZB Q063-2022
现行
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标准简介

适用范围：

本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于验证SiGaNSiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备。

基本信息

标准号：
T/ZZB Q063-2022
标准名称：
半导体器件间歇工作寿命试验设备
英文名称：
Intermittent working life test equipment for semiconductor devices
标准状态：
现行
发布日期：
2022-10-14
实施日期：
2022-10-20
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
17.040.30
中标分类号：
L87

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
胡久恒代凯旋周恺超史少礼许静连加俤和巍巍罗皓泽钱清友邹光炜潘子升夏姚忠丁兆达王永乐李俊
起草单位：
杭州高坤电子科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、浙江大学电气工程学院、士兰微电子股份有限公司、捷捷半导体有限公司、上海季丰电子股份有限公司、北京中科新微特科技开发股份有限公司、杭州电子科技大学、中国计量大学
归口单位：
浙江省质量协会
提出部门：
浙江省质量协会
发布部门：
浙江省质量协会

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