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【团体标准】 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序

本网站 发布时间： 2023-10-27
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适用范围：

本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序，包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。
本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。

基本信息

  • 标准号：

    T/CIE 152-2022

  • 标准名称：

    微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序

  • 英文名称：

    Test method and procedure for identification of physical characteristics of fake and counterfeit microelectronics devices

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2022-12-31

  • 实施日期：

    2023-01-31

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    19.020

  • 中标分类号：

    L74

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    33 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    周帅 马凌志 邱宝军 罗宏伟 王小强 王斌 罗捷 罗军 林晓玲 武慧薇 崔华楠 马凯学 吴裕功 蔡念 常胜 温长清

  • 起草单位：

    工业和信息化部电子第五研究所、中国空间技术研究院、天津大学、武汉大学、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司

  • 归口单位：

    中国电子学会可靠性分会

  • 提出部门：

    中国电子学会可靠性分会

  • 发布部门：

    中国电子学会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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