您的位置：
中国标准在线服务网 >>
全部标准分类 >>
国外标准 >>
IEEE >>
IEEE 1687-2014 IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device

【国外标准】 IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 1687-2014
定价： 283元 / 折扣价： 241 元
在线阅读

开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！查看详情>>

标准简介

适用范围：

This standard develops a methodology for access to embedded instrumentation, without defining the instruments or their features themselves, via the IEEE 1149.1(TM) test access port (TAP) and additional signals that may be required. The elements of the methodology include a description language for the characteristics of the features and for communication with the features, and requirements for interfacing to the features.

基本信息

标准号：
IEEE 1687-2014
标准名称：
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

其它标准

推荐标准