开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

标准详细信息 去购物车结算

【国际标准】 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

本网站 发布时间： 2025-01-04
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    IEC 62047-35:2019 EN-FR

  • 标准名称：

    Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

  • 英文名称：

    Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2019-11-22

  • 实施日期：

  • 出版语种：

    EN-FR

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.99

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

  • 起草单位：

  • 归口单位：

    TC 47/SC 47F

  • 提出部门：

    IEC

  • 发布部门：

    IEC
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究