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- T/SCBDIF 002-2023 液晶面板制程 缺陷检测方法
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适用范围:
液晶面板制程是指液晶显示器的核心部件——液晶面板的生产过程,涉及到多种复杂的技术和工艺,如薄膜沉积、光刻曝光、蚀刻剥膜、配向摩擦、胶合贴合、切割分选等。液晶面板制程的质量和效率直接影响到液晶显示器的性能和成本,是液晶显示行业的核心竞争力之一。液晶面板制程缺陷检测是指对液晶面板在生产过程中产生的各种缺陷进行识别和分类的技术和方法,包括点缺陷、线缺陷、Mura缺陷、crack缺陷、broken缺陷、chip缺陷、scratch缺陷、burr缺陷、drop缺陷等。这些缺陷会影响液晶面板的显示效果和可靠性,导致产品不良率增加和客户投诉增多。目前液晶面板制程缺陷检测的主要方式是人工视觉检测和机器视觉检测。其中,机器视觉检测是指通过相机或传感器采集液晶面板的图像或信号,利用计算机软件进行图像处理和分析,自动识别出缺陷并给出评价结果。这种方式的优点是效率高,准确性高,可以实现检测的标准化和数字化;缺点是灵活性低,需要针对不同的产品和工艺进行专门的设计和调试,难以适应多变的生产需求。为了规范和统一液晶面板制程缺陷检测的技术标准和方法,提高液晶面板的质量和可靠性,降低生产成本和浪费,促进液晶面板行业的发展和创新,特制定本标准。
标准号:
T/SCBDIF 002-2023
标准名称:
液晶面板制程 缺陷检测方法
英文名称:
标准状态:
现行-
发布日期:
2023-08-30 -
实施日期:
2023-08-30 出版语种:
- 推荐标准
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