您的位置：
中国标准在线服务网 >>
全部标准分类 >>
国外标准 >>
IEEE >>
IEEE 1149.1-2013 IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

【国外标准】 IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 1149.1-2013
定价： 318元 / 折扣价： 271 元
在线阅读

开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！查看详情>>

标准简介

适用范围：

This standard defines test logic that can be included in an integrated circuit to provide standardized approaches to: Testing the interconnections between integrated circuits once they have been assembled onto a printed circuit board or other substrate - Testing the integrated circuit itself - Observing or modifying circuit activity during the component's normal operation The test logic consists of a boundary-scan register and other building blocks and is accessed through a test access port (TAP).

基本信息

标准号：
IEEE 1149.1-2013
标准名称：
IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

其它标准

推荐标准