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【团体标准】 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

本网站 发布时间： 2023-11-06
  • T/CESA 1120-2020
  • 现行
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标准简介标准简介

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    T/CESA 1120-2020

  • 标准名称：

    人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

  • 英文名称：

    AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for edge side

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2020-10-30

  • 实施日期：

    2020-11-10

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

    宋博伟 任翔 赵鑫 钟伟军 陶梦蝶 刘畅 刘音 曹晓琦 袁圆 李强 汪玉 葛广君 韩银和 李威 全振宇 许源 赵春昊 刘亦珩 张震宁 罗恒 刘勇 恽超 程新超 张文蒙 梁枭 罗航 陆坚 代翔 王和国 王一鹤 王梦硕 钟明琛

  • 起草单位：

  • 归口单位：

  • 提出部门：

  • 发布部门：

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  • 国家标准计划

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