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【团体标准】 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

本网站 发布时间： 2023-11-06
  • T/CESA 1120-2020
  • 现行
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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    T/CESA 1120-2020

  • 标准名称：

    人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

  • 英文名称：

    AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for edge side

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2020-10-30

  • 实施日期：

    2020-11-10

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

    宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、刘音、曹晓琦、袁圆、李强、 汪玉、葛广君、韩银和、李威、全振宇、许源、赵春昊、刘亦珩、张震宁、罗恒、刘勇、恽超、程新超、 张文蒙、梁枭、罗航、陆坚、代翔、王和国、王一鹤、王梦硕、钟明琛

  • 起草单位：

  • 归口单位：

  • 提出部门：

  • 发布部门：

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  • 推荐标准

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