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IEEE 351-1972 IEEE Trial Use Standard Guide on Solid State Devices: Varactor Measurements Part II - Characterization of Large-Signal Devices

【国外标准】 IEEE Trial Use Standard Guide on Solid State Devices: Varactor Measurements Part II - Characterization of Large-Signal Devices

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 351-1972
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标准简介

适用范围：

This standard describes parameters and methods of measurement suitable for the characterization of varactors intended for large-signal application. This will be done by reference to the parameters and methods prescribed in IEEE Std 318-1971, Trial-Use Guide on Solid-State Devices: Varactor Measurements, Part I -- Small Signal Measurements, where they are applicable, and by modification and supplementation of them where necessary for use with large-signal devices.

基本信息

标准号：
IEEE 351-1972
标准名称：
IEEE Trial Use Standard Guide on Solid State Devices: Varactor Measurements Part II - Characterization of Large-Signal Devices
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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出版信息

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