【国外标准】 IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE 1505.1-2019
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标准简介

适用范围：

The scope of this standard is the definition of a physical pin map utilizing the IEEE 1505(TM) receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.

基本信息

标准号：
IEEE 1505.1-2019
标准名称：
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
英文名称：
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标准分类号

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出版信息

页数：
157 页
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